IEC62471-2006(CIE S009) Bezpieczeństwo fotobiologiczne lamp i systemów lampowych oraz IEC TR62471-2(2009) Wytyczne dotyczące wymagań produkcyjnych odnoszących się do bezpieczeństwa promieniowania optycznego innego niż laser zostały opublikowane i odnoszą się do zagrożeń dla ludzi (głównie oczu i skóry) i są w pełni odpowiednie do oceny bezpieczeństwa promieniowania optycznego źródeł innych niż laserowe, takich jak produkty LED, promieniowanie UV w ogólnych produktach oświetleniowych itp.

Poziom zagrożenia promieniowaniem optycznym może mieścić się w zakresie od 200 nm do 3000 nm. Opiera się on na pomiarze natężenia napromienienia widmowego i radiancji widmowej w określonej geometrii pomiarowej, w odniesieniu do czasu ekspozycji.

Standard:
IEC62471-1/EN62471-1 “Bezpieczeństwo fotobiologiczne lamp i systemów lampowych”
CIE S009 / GB/T 20145”Bezpieczeństwo fotobiologiczne lamp i systemów lampowych”
IEC62471-6:2022 “Bezpieczeństwo fotobiologiczne lamp i systemów lampowych – Część 6: Produkty lamp ultrafioletowych”
IEC62471-7:2023 “Bezpieczeństwo fotobiologiczne lamp i systemów lampowych – Źródła światła i oprawy oświetleniowe emitujące głównie promieniowanie widzialne”
IEC/EN 60598/GB 7000.1  “Oprawy oświetleniowe – Część 1: Wymagania ogólne i badania”
IEC/EN 60432 “Żarówki – Wymagania bezpieczeństwa – Część 1: Żarówki z żarnikiem wolframowym do użytku domowego i podobnych ogólnych celów oświetleniowych”
IEC60335-2-27 “Sprzęt elektryczny do użytku domowego i podobnego; Bezpieczeństwo – Część 2-27: Wymagania szczegółowe dotyczące urządzeń do naświetlania skóry promieniowaniem ultrafioletowym i podczerwonym”
IEC60335-2-59 “Sprzęt elektryczny do użytku domowego i podobnego – Bezpieczeństwo – Część 2-59: Wymagania szczegółowe dotyczące urządzeń owadobójczych”

Sprzęt pomiarowy zgodny z normą IEC 62471 jest przeznaczony specjalnie do pomiaru poziomu zagrożenia promieniowaniem optycznym określonego w normie IEC 62471.

• Narażenie na szkodliwe działanie promieniowania UV aktynicznego (ważone natężenie promieniowania od 200 nm do 400 nm) dla skóry i oczu
• Narażenie na szkodliwe działanie promieniowania bliskiego UV (natężenie promieniowania od 315 nm do 400 nm) dla oczu
• Narażenie siatkówki na szkodliwe działanie niebieskiego światła (ważona radiancja od 300 nm do 700 nm)
• Narażenie siatkówki na światło niebieskie (ważone natężenie promieniowania, 300–700 nm) – małe źródło światła
• Narażenie siatkówki na zagrożenie termiczne (ważona radiancja od 380 nm do 1400 nm)
• Narażenie siatkówki na zagrożenie termiczne (ważona radiancja; 780-1400 nm) – słaby bodziec wzrokowy
• Zagrożenie dla oczu spowodowane promieniowaniem podczerwonym (natężenie promieniowania od 780 nm do 3000 nm)
• Narażenie na zagrożenie termiczne (natężenie promieniowania od 380 nm do 3000 nm) dla skóry

Specyfikacja:
• Zakres długości fali: 200 nm do 800 nm (EN62471-A), 200–1500 nm (EN62471-B) i 200–3000 nm (EN62471-C)
• Dokładność długości fali: 0,1 nm (UV), 0,2 nm (VIS), 0,4 nm (IR)
• Projekt ścieżki optycznej: Symulacja ścieżki optycznej obrazowania ludzkiego oka w celu dokładnej oceny efektywnego promieniowania siatkówki ludzkiego oka
• Apertura padająca: Φ7 mm apertura odbierająca światło, odpowiednia do wymagań pomiarowych we wszystkich scenariuszach
• Pomiar pola widzenia (w pełni spełniającego wymagania normy odnośnie czasu trwania promieniowania):
1) Pomiar efektywnej luminancji promieniowania: 1,5 mrad~110 mrad (1,7 mrad, 11 mrad, 100 mrad)
2)Pomiar efektywnego natężenia promieniowania: 100 mrad, 1,4 rad i 2πsr
• Odległość testowa: 200 mm~20,0 m (opcjonalnie) ze stałym polem widzenia i aperturą wejściową
• 16-bitowa kamera o jakości naukowej: rozdzielczość 2048*1536, wysoce precyzyjna programowalna regulacja ostrości elektrycznej
• Śledzenie kalibracji: Możliwość śledzenia w Narodowym Instytucie Metrologii (NIM)
• Maksymalny zakres skanowania ekspozycji: przestrzeń 2π
• Zakres dynamiczny: 10^8
• Funkcja pomiaru impulsów (opcjonalna): Maksymalna prędkość próbkowania wynosi 100 kS/s
• Wysokoprecyzyjny spektrometr z podwójnym monochromatorem (opcjonalnie): PMT/InGaAs/Si/PbS (opcjonalnie)